類離子急速移動試驗裝置

供多層印刷電路板絕緣劣化評價用ECM-100系列

可對離子遷移・絕緣電阻值進行高精度・高信賴性・率的評價。

從當今的地球・市場環境來看，省能源・鉛/無鹵素・小型輕量・低價格・高信賴等觀點出發的，

新素材・新實裝方法的研究開發・評價方法的重估是必須的。

J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，

新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100系列。

簡介：離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流

電壓（BIAS VOLTAGE）,經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的

現象發生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）

適用規格：JPCA-ET01-2001

項目

規格・性能・其他

筺體

型式

ECM-100/40-n(n:Channel數)

ECM-100/100-n(n:Channel數)

筺體型式

40CH型（4計測組合）

100CH型（10計測組合）

筺體寸法

265W×330.3D×405H（突起部除外）

417.4W×330.3D×405H（突起部除外）

消費電力

大約70VA（4計測組合實裝時）

大約130VA（10計測組合實裝時）

重量

大約16kg（4計測組合實裝時）

大約25kg（10計測組合實裝時）