HIOKI 3532-50 LCR測試儀測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內以4位度自由調整。可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便，改變設置時通過觸模屏幕，所需的設定選項會順序排列顯示出來。

HIOKI 3532-50 LCR測試儀的基本參數

測量參數 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

測量方法 測量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)

檢測：電壓，AC

測量頻率 42Hz～5MHz

測量量程 │Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)

θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF

L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999

Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S

基本精度 │Z│: ±0.08% rdg.，θ: ±0.05°

測量時間

│Z│的典型值 快速：5ms～ 慢速2：140ms

顯示 大顯示值99999，LCD背光功能

比較器功能 設定：上、下限值，百分比或值 輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，絕緣

外部打印 9442 （與9443/9446/9593-01同時使用）

電源供應 100～240V AC 50/60Hz

體積及重量 352寬×124高×323厚mm，6.5kg